​​AXIOM系列 X射线镀层测厚仪介绍

AXIOM系列

适用于：|电子和电器|PCB|连接器|珠宝|电镀液分析|紧固件|硬件|

     AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。

     AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。

一、功能：

1、性能及符合性：

通过PTB认证，符合最高辐射安全标准

检测方法通过ISO 3497，ASTM B568，DIN 50987和IEC 62321等认证

开槽式大样品台

可编程的XY样品台

样品腔体积（宽/深/高）：600 X 500 X 172.5mm（W X D X H）

创新的防撞设计

2、可编程的样品台

预定位激光技术

最大化样品台行程范围及速度

自动测量

3、软件及校准

基于WINDOWS 10操作系统

选择经验校准以实现最大准确性或选择FP无标样模式以轻松

成分分析：可自由选择元素，同时实现多于20种元素的定量分析

厚度测量：可自定义镀层结构，最多同时测定5层

二、特点

采用微聚焦硼窗X射线光管，实现高精度、高可靠性，测量时间短、

使用寿命长、购置成本低

采用高分辨SDD探测器，提供能量级别的最佳效率，

极低的检出限(LOD)

多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率

开槽式超大样品舱设计，十分适合标准及超大样品

“USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外硬件。

德国技术，符合最高工程标准

坚固耐用的设计可实现长期可靠性

通过PTB认证，满足最高辐射安全标准

三、操作步骤

1、将样品放在大样品台上

     无损分析：无需样品制备

     样品易定位，大舱门和开槽设计有利于大型平板样品

     操作安全

     侧窗式：更易观察到样品

2、选择样品测量点

     精准的测量点定位—高分辨率和高放大倍率的彩色影像装置

     操纵杆或鼠标控制实现快速简便的样品定位

     以客户定制的分析模式完成单点或多点分析

3、结果报告

     高清彩色图像，易于识别

     测试结果一键导出到Word，Excel，HTML和PDF格式

     客户定制的报告，简单​，灵活

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