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L200美国<br>LEE涂层测厚仪

L200美国
LEE涂层测厚仪

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量程:0-600/1250/6000um
适用:测量磁性Fe基体上的非磁性涂镀层及非磁性NFe基体上所有非导电层的厚度
功能:只需调零、无需校准;特点:一体化设计

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