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Model DUORES新款二合一<br>功能面电阻/电阻率测试设备

Model DUORES新款二合一
功能面电阻/电阻率测试设备

  • 详情说明

  • 产品参数

手持式面电阻测试仪器

可以更换使用非接触式和接触式四探针两种探头


主机+四探针探头(左)+非接触式探头(右)

                    显示屏

便于测试面电阻且方便随身携带

可替换的手持式非接触探头和四探针探头

特色:

·<独创的技术>

   可替换的两种测试原理的手持式探头

    (1)非接触式探头(涡电流测试法)

    (2)四探针探头(四探针测试法)

·探头触碰到样品时就会自动开始测量

·可以长达24小时的操作时间

·最多可以储存100组数据

·可通过USB-MINI将数据导出

·数据显示4位数的浮动小数点

应用:

·任意样品只要在测量范围内都可以进行测量

(如薄膜、玻璃、纸张等)

·导电薄膜(ITO、TCO等)

·LOW-E玻璃

·纳米碳管、石墨烯材料

·金属材质(纳米银线、金属网络、金属薄膜)

·其他

*请联系我们提供细节信息&提供样品测试

样品尺寸:

任意尺寸大小都可以被测试

(比测试面积更大的范围都可以)

DUORES配置:

<配置>主机、四探针探头、非接触式探头、标准电阻(用于校准四探针探头/非接触式探头,各一片)、充电器

*置:(1)主机,四探针探头;(2)主机,非接触式探头。以上两种都可供客户选择。

接触式探头,探头测试面积:3mm

无损探头,探头测试面积:25mm

4节电池(不包括在机器中)

测试功能的切换十分方便






测试范围&精度

探头类型 测量范围 测量精度
非接触式探头() 0.5~20ohm/sq
0.5~100ohm/sq ≦3.0%*重复性
100~200ohm/sq ≦5.0%*重复性
四探针探头(四探针测试法) 0.1~4000ohm/sq ≦±0.5%*精度
*重复性:NAPSON标准片的测量重复性(CV=STDEVP/AVG×100%)

*精度:NAPSON标准电阻的测试精度

尺寸和电源:

<尺寸>主机:W80(100) ×D210 ×H36 mm, approx.350g,{*并不含电池重量在其中}

      非接触式探头:W70(φ50) ×D20(φ50) ×H70 mm, approx.170g
      四探针探头:W40 ×D15 x H50 mm, approx.85g
<电源>AC100~240V, 50/60Hz, DC9V 1A


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