Product Classification
0769-82012606
132-1536-5008
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Loresta Series 低阻抗率计 MCP-T360| MCP-T370| MCP-T610|MCP-700四探针探头附件中国总代理:
四探针探头:
ASP探头MCP-TP03P (RMH110), 适合测试大多数样品 间距5mm,针尖距离0.37R×4支,压力210gf/支
ESP探头MCP-TP08P (RMH114) 适合不规则样品测试 间距5mm,直径2mm×4支,压力:240gf/支
LSP探头MCP-TPLSP (RMH116) 适合柔软的表面样本测试 间距5.0mm,针尖距离2mm×4支,压力130gf/支
PSP探头MCP-TP06P (RMH112) 适合小样品或薄膜测试 间距1.5mm,针尖距离0.26R×4支,压力70gf/支 QP2探头MCP-TPQP2 (RMH119) 适合微小样品测试(矩形排列) 间距1.5mm,,针尖距离0.26R×4支,压力70gf/支
BSP探头MCP-TP05P(RMH111) 适合大样品测试 间距2.5mm,针尖距离0.37R×2×2支,压力210gf/支
NSCP探头MCP-NSCP(RMJ202)特殊用途探针 适合Silicone wafer测试 间距1.0mm,针尖距离0.04R×4支,压力250gf/支
TFP探头MCP-TFP(RMJ217)特殊用途探针 适合Thin films on Si wafer测试 间距1.0mm,针尖距离0.15R×4支,压力50gf/支 四探针探头检验块:
MCP-TRF1(RMH304) ASP,ESP,LSP探头用(探头检验块用于测试前检查)
MCP-TRPS(RMH311) PSP探头用(探头检验块用于测试前检查)
MCP-TRQP2(RMH313) QP2探头用(探头检验块用于测试前检查)
MCP-TRTF(RMH312) TFP,NSCP探头用(探头检验块用于测试前检查) 二探针探头:
AP2探头MCP-TPAP2(RMH333) 适合测试大多数样品测试 间距10mm,针尖距离2R×2支,压力240gf/支 BP探头MCP-TPBP(RMH118) 适合大样品测试 针尖距离2R×2支,压力240gf/支 二探针探头检验块:
MCP-TRT2(RMH335) AP2,BP探头用(探头检验块用于测试前检查) 附件:
MCP-FS02(RMJ802) 脚踏开关
MCP-ST03(RMJ354) 绝缘板 尺寸 W300×D200×H10mm |