Loresta Series 低阻抗率计四探针仪探头

Loresta Series 低阻抗率计四探针仪探头

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Loresta Series 低阻抗率计 MCP-T360| MCP-T370| MCP-T610|MCP-700​四探针探头附件中国总代理:

四探针探头


ASP探头MCP-TP03P (RMH110)

适合测试大多数样品

间距5mm,针尖距离0.37R×4支,压力210gf/支




ESP探头MCP-TP08P (RMH114)

适合不规则样品测试

间距​5mm,直径2mm×4支,压力:240gf/支



LSP探头MCP-TPLSP (RMH116)

适合柔软的表面样本测试

间距5.0mm,针尖距离2mm×4支,压力130gf/支


​​

PSP探头MCP-TP06P (RMH112)

适合​小样品或薄膜测试

间距​1.5mm,针尖距离​0.26R×4支​,压力70gf/支



QP2探头MCP-TPQP2 (RMH119)

适合微小样品测试(矩形排列)

间距1.5mm,,针尖距离0.26R​​×4支,压力70gf/支



BSP探头MCP-TP05P(RMH111)

适合大样品测试

间距2.5mm,针尖距离0.37R×2×2​支,压力210gf/支



NSCP探头MCP-NSCP(RMJ202)特殊用途探针

适合Silicone wafer测试​

间距1.0mm,针尖距离0.04R×​4支,压力250gf/支



TFP探头MCP-TFP(RMJ217)特殊用途探针

适合Thin films on Si wafer测试

间距1.0mm,针尖距离0.15R×​4支,压力50gf/支

四探针探头检验块:


​​

MCP-TRF1(RMH304)

ASP,ESP,LSP探头用(探头检验块用于测试前检查)​



MCP-TRPS(RMH311)

PSP探头用(探头检验块用于测试前检查)​



MCP-TRQP2(RMH313)

QP2探头用(探头检验块用于测试前检查)​



MCP-TRTF(RMH312)​​

TFP,NSCP探头用(探头检验块用于测试前检查)

二探针探头:



AP2探头MCP-TPAP2(RMH333)

适合测试大多数样品测试

间距10mm,针尖距离2R×​2支,压力240gf​/支



BP探头MCP-TPBP(RMH118)

适合大样品测试

针尖距离2R×​2支,压力240gf​/支

二探针探头检验块:



MCP-TRT2(RMH335)

AP2,BP探头用(探头检验块用于测试前检查)

附件



MCP-FS02(RMJ802)

脚踏开关



MCP-ST03(RMJ354)

绝缘板

尺寸 W300×D200×H10mm

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